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Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室台式掃描電鏡，可用於醫療器械塗層觀察，幫助分析塗層表麵、截麵和界麵形貌。

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室台式掃描電鏡，可用於醫用材料表麵形貌分析，幫助觀察材料表麵結構、孔隙和缺陷。

AFM-SEM 同步聯用技術（通用版）SEM 與 AFM 是亞納米級樣品分析中應用廣泛且互補的兩大技術。將 AFM 集成至 SEM 中可融合兩者的優勢，實現超高效工作流程， 完成傳統 AFM 和 SEM 難以或無法實現的極限性能和複雜樣品分析。

全新發布的AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機 AFM-in-Phenom XL 結合了掃描午夜视频黄色 (SEM) 和原子力顯微鏡 (AFM) 的優勢，實現了在同一係統中對樣品進行多模態（SEM 及 AFM 形貌、元素、機械、電學、磁學）關聯分析。

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