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Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室台式掃描電鏡，可用於植入物表麵形貌觀察，幫助分析表麵粗糙度相關形貌、塗層和缺陷特征。

ParticleX Battery 是飛納推出的全自動鋰電清潔度分析係統，可用於負極材料金屬顆粒檢測，幫助識別顆粒形貌和元素組成。

ParticleX Battery 是飛納推出的鋰電清潔度分析係統，可用於磷酸鐵鋰材料中的金屬異物識別、成分分析和分類統計。

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室台式掃描電鏡，可用於醫用材料表麵形貌分析，幫助觀察材料表麵結構、孔隙和缺陷。

Phenom Pharos G2 是飛納推出的台式場發射掃描電鏡，可用於科研實驗室高分辨SEM觀察，適合多類材料的微納形貌表征。